Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

Automated testing of embedded systems. Test automation framework for PLCs

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Endre Katona
ISBN: 9783639463927
Год издания: 2013
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 132
Издательство: AV Akademikerverlag
Цена: 27565 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли экономики:
Код товара: 118771
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: Embedded systems are nowadays already an essential part of our everyday life. Working in the background, several of them control important processes, such as the electric power delivery to each household. A failure of these systems may lead to big financial losses, in severe cases even to loss of innocent lives. Although built from two main components, hardware and software, the experience shows that the most reliability problems are caused by bugs in the implemented software. This fact makes the testing process of the embedded software a critical part of the system development process. By building hardware-in-the-loop simulations, the system testers have the possibility to examine the behavior of the developed system in an environment, which is very similar to the one present in the controlled plant, and able to automate the tests, so that regression testing can be done in shorter times.
Ключевые слова: embedded software testing, test automation, Hardware-in-the-Loop, IEC 60870-5