Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

Emulation and By-Emitter Degradation Analysis of High Power Lasers.

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Christian Kwaku Amuzuvi
ISBN: 9783659370359
Год издания: 2013
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 272
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 43080 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли экономики:
Код товара: 121510
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: The characterisation, emulation and by-emitter degradation analysis of two types of high power semiconductor laser diodes are presented in this work. An attempt is made using an accurate laser simulator called Speclase to learn more about the degradation of high power semiconductor laser diodes. Speclase being a single emitter simulation tool was transformed to model a bar i.e. multiple emitters, which we have named Barlase. The concept of Barlase was based on the fact that a bar is a monolithic block of multiple emitters connected in parallel with each other with a common voltage connected across them. The tool is designed to examine and emulate the degradation processes at both the laser bar and individual emitter levels of operation. Emitters are known to degrade faster within a bar than for identical single emitters due to a combination of packaging-induced strain and current competition. The bar emulation model was enhanced by including a global thermal solver to model the thermal crosstalk between emitters but the frown shaped temperature profile was minimal. This work is still at a very early stage and therefore, further work is needed to achieve better results.
Ключевые слова: Microscopy, Electroluminescence, Photoluminescence, Degradation, By-emitter, Heatsink, QUANTUM-WELL, trap-density, bandgap-energy, nonradiative