| Поиск по каталогу |
|
(строгое соответствие)
|
- Профессиональная
- Научно-популярная
- Художественная
- Публицистика
- Детская
- Искусство
- Хобби, семья, дом
- Спорт
- Путеводители
- Блокноты, тетради, открытки
Optical properties of ZnTe thin films deposited using SILAR method.
В наличии
| Местонахождение: Алматы | Состояние экземпляра: новый |
Бумажная
версия
версия
Автор: Jignesh Rathod
ISBN: 9783659273858
Год издания: 2014
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 64
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 23350 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли знаний:Код товара: 132576
| Способы доставки в город Алматы * комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней |
| Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK) |
| Курьерская доставка CDEK из города Москва |
| Доставка Почтой России из города Москва |
Аннотация: This book starts with the theoretical back ground of optical absorption in semiconductors. Various optical parameters like the absorption (A), transmission(T), extinction coefficient (K), refractive index (n),optical energy gap (Eg), etc. were calculated with detailed analysis of UV-VIS-IR spectra for ZnTe thin films deposited by successive ionic layer absorption and reaction (SILAR) method at various thickness and annealing temperature.The results are analyzed and discussed in detail in this book.
Ключевые слова: Optical properties, Optical properties, SILAR method, ZnTe thin films, UV-VIS-IR spectroscopy