Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

Life testing using probability distributions.

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Pradeep Mishra
ISBN: 9783659349140
Год издания: 2015
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 56
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 21130 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли знаний:
Код товара: 144540
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: “Accelerated life testing” involves acceleration of failures with the single purpose of the “quantification of the life characteristics of the product at normal use conditions.” This book is solely concerned with this type of accelerated life testing. During the last few decades, the statistician and other researchers had been concentrated about life testing using probability models. The parameters involved in the models usually had been estimated by method of moment and maximum likelihood. The literature cited above indicated about the life testing using probability distributions. The present investigation was undertaken by taking the probability density function of exponential and Weibull distribution to determine general equation for failure rate function and failure time distribution, and also the study of mean life of the system through these distributions.The failure rate function of exponential distribution is . Thus, the failure rate function for the exponential distribution is constant. The parameter is often referred to as the rate of the distribution, which is also known as memory less property.
Ключевые слова: exponential distribution, failure rate, Accelerated life testing, Weibull distribution
Похожие издания
Отрасли знаний: Точные науки -> Математика
Salma Bleed
Accelerated Life Testing Using the Family of the Generalized Logistic. .
2016 г.,  160 стр.,  мягкий переплет
Many high-performance units made today can have extremely large reliabilities when they are operating as intended. For example, through advances in engineering science, a measurement such as time to failure for an electronic device could be quite large. For these situations, calculating the reliability is still of interest to the manufacturer and...

38860 тг
Бумажная версия