Поиск по каталогу |
(строгое соответствие)
|
- Профессиональная
- Научно-популярная
- Художественная
- Публицистика
- Детская
- Искусство
- Хобби, семья, дом
- Спорт
- Путеводители
- Блокноты, тетради, открытки
Reliability Prediction by Accelerated Life Testing. Methodology & Planning
В наличии
Местонахождение: Алматы | Состояние экземпляра: новый |
Бумажная
версия
версия
Автор: Diana Denice,Manoj Kumar and Prashant P. Marathe
ISBN: 9783659693496
Год издания: 2015
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 60
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 23208 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли экономики:Код товара: 148304
Способы доставки в город Алматы * комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней |
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK) |
Курьерская доставка CDEK из города Москва |
Доставка Почтой России из города Москва |
Аннотация: Over the past few decades, reliability has grown to become an important design attribute of critical electronic systems. Reliability is embedded into systems during design phase itself and improved by means of failure analysis & testing. However, it is important to verify the reliability of a critical system before it is deployed. The three well-known methods for reliability prediction are empirical method, physics of failure and life testing. Accelerated life testing, on the other hand is an extension of life testing method where the units under test are subjected to elevated stress levels to induce early failures. The test depends on accelerating the dominant failure mechanisms which reduce the time of testing. The book focuses on reliability prediction of electronic modules by means of accelerated life testing. Step by step planning of the test is the highlight of this book.
Ключевые слова: Failure Mechanisms, Reliability, Reliability Prediction, life test, accelerated life test, physics of failure