Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

Analytical Study for Characterization of the Icon Materials.

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Mina Shehata,Yousry Issa and Gomaa Abdel-Maksoud
ISBN: 9783659815072
Год издания: 2016
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 172
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 42675 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли знаний:
Код товара: 154526
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: The aim of this study is characterization of the icon materials using different spectroscopic methods to give information about the identity of icons, assessment the state of icons, and evaluation the effect of environmental conditions. This book is based on a literature review and experimental work. A collection of eleven icons were included within the study. Different spectroscopic methods have been used during the study such as Attenuated Total Reflection-Fourier Transform Infrared Spectroscopy (ATR-FTIR), Field Emission Scanning Electron microscopy-Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (FESEM-EDX), Amino Acid Analyzer (AAA), Optical Microscopy (OM), X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), Raman Spectroscopy (RS), and Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectroscopy (ICP-OES). The results are used for the conservation and/or restoration of the artifacts itself.
Ключевые слова: AAA, characterization, Icon, ICP-OES, RS, XPS, ATTR-FTIR, FESEM-EDX, OM, Deterioration.