Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

Development of Agromet-Spectral Cotton yield models using IRS data. Development of Spectral Growth Profile based Cotton Yield Models Using Remote Sensing, Soil and Agrometeorological Data

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Manik Kalubarme
ISBN: 9783659895890
Год издания: 2016
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 188
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 39855 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли экономики:
Код товара: 159304
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: This study was conducted in the five major cotton producing districts which account for 95.5 per cent of cotton production in Punjab State. The spectral growth profile parameters computed are: Peak value of profile (Gmax) at the time of peak occurrence (tmax),Total area under the curve (AREASUM), and Area under different growth phases (Phase-I to Phase-IV). The best subset of variables for regression analysis with yield was selected using the backward elimination procedure and detailed multiple regression analysis was carried out. The correlation matrices of NDVI and TSAVI derived from growth profile parameters indicate that growth profile area under Phase-II, Phase-III and peak value of profile (Gm) are highly correlated with district-level cotton yields. The performance of regional Spectral-Yield Models developed using both NDVI and TSAVI in terms of their yield prediction capability was evaluated by computing Mean Absolute Per cent Error (MAPE). It was observed that the predicted yields of five districts during five crop seasons (1999 to 2003) using NDVI and TSAVI based growth profile parameters, in general, the MAPE of the predicted yields were within 15 per cent.
Ключевые слова: Indian Remote Sensing Satellite (IRS) Wide Field Sensor (WiFS), Spectral Vegetation Indices, spectral growth profile parameters, Peak value of profile (Gmax), Spectral growth profile based -Yield Models