Поиск по каталогу |
(строгое соответствие)
|
- Профессиональная
- Научно-популярная
- Художественная
- Публицистика
- Детская
- Искусство
- Хобби, семья, дом
- Спорт
- Путеводители
- Блокноты, тетради, открытки
Реальная структура тонких кристаллов селена. Тонкие кристаллы селена с римановой кривизной решетки и границами с переменными кристаллогеометрическими параметрами
В наличии
Местонахождение: Алматы | Состояние экземпляра: новый |
Бумажная
версия
версия
Автор: Андрей Малков, Вячеслав Малков
ISBN: 978-3-659-29790-8
Год издания: 2012
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 196
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 41639 тг
Положить в корзину
Способы доставки в город Алматы * комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней |
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK) |
Курьерская доставка CDEK из города Москва |
Доставка Почтой России из города Москва |
Аннотация: В монографии представлены результаты исследований реальной структуры кристаллов, растущих в тонких аморфных пленках селена. Реальная структура тонких кристаллов селена характеризуется ротационным искривлением решетки, в общем случае вокруг трех взаимно перпендикулярных направлений, отличной от нуля римановой кривизной решетки и наличием межблочных границ с изменяющимися вдоль границ кристаллогеометрическими параметрами. Разработана методика определения римановой кривизны решетки тонких кристаллов. Приведены примеры применения данной методики для расчета римановой кривизны решетки тонких кристаллов селена. Обнаружен эффект изменения знака вектора разориентировки вдоль межблочных границ, сформировавшихся в кристаллах селена в процессе роста в тонкой аморфной пленке. Эффект изменения знака вектора разориентировки обнаружен в тонких кристаллах селена как для границ вышедших на фронт роста кристалла, так и для оборванных границ.
Ключевые слова: кристалл, реальная структура, ротационное искривление решетки, риманова кривизна решетки, межблочная граница