Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

Identification of Weak Buses and Voltage Stability Enhancement. Voltage Stability Enhancement Using Shunt Devices & Identification of Weak Bus through Voltage Stability Indices

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: LALIT KUMAR and SANJAY KUMAR
ISBN: 9786200278746
Год издания: 2019
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 80
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 23919 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли экономики:
Код товара: 502384
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: Voltage Stability analysis is a very vital and challenging issue of the power system and maintains the stable bus voltage profile is the biggest problem. Here we applied Modal analysis, Line voltage stability indices, to study voltage collapse problem and find the weakest bus in the test bus system by using the PV curve. After investigating the weak bus, we have injected the shunt devices for maintaining the voltage profile. All parameter decided for voltage collapse by the PSAT MATLAB simulation. The modal analysis gives the Eigenvalue and Participation factor and these values help to find the weakest node in the system. Here see that smallest Eigenvalue gives the voltage collapse point and Line Voltage stability Indices help to find the weakest line corresponding to the weakest bus. We proposed the comparative analysis of three-line indices, Line Stability Index, Fast Voltage Stability Index, and Line Stability or Quality Factor. The PV curve gives the voltage collapse point with and without injecting shunt devices in the test bus system. The effectiveness of the line stability indices is demonstrated through simulation studies in IEEE 14 and IEEE 30 bus test system.
Ключевые слова: IEEE 30 bus, IEEE 14 bus, Modal Analysis, Eigen value, Matlab, PSAT, voltage collapse, Voltage Stability Indices, SVC