Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

The Investigation of Transport Properties in AlSb Thin Films.

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Yogesh Toda and Dhananjay Gujarathi
ISBN: 9786202683265
Год издания: 2020
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 92
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 31605 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли знаний:
Код товара: 573917
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: Theoretical predictions for AlSb material properties have not been realized using bulk growth methods. This research was motivated by thermal evaporation technology to produce high quality thin film AlSb for the purpose of evaluating transport properties and suitability for thermo electric devices and solar cell. The objective of present research work is to prepare compound thin films of AlSb thin films for thermoelectric applications. The thin film of varying thicknesses of AlSb was prepared by using thermal vacuum evaporation technique. The structural characterizations were made by using XRD. The optical characterizations and band gap were evaluated using UV-VIS-NIR spectroscopy, Electrical Characterizations by four probe technique and thermoelectric characterizations were carried out. X-ray diffractogram shows that films were polycrystalline in nature and having cubic structure. The various parameters such as activation energy, bulk resistivity, carrier concentration, mobility, Fermi energy, absorption coefficient were evaluated and found to be thickness dependent. The deposited films were semiconducting in nature and a suitable candidate for IR detector, solar cell.
Ключевые слова: thin film, transport properties