Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

Unveiling the Crystal Lattice: AI-Enhanced XRD Analysis.

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Arathi Choppakatla
ISBN: 9786206739197
Год издания: 1905
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 52
Издательство: LAP LAMBERT Academic Publishing
Цена: 24860 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли знаний:
Код товара: 760965
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: "Unveiling the Crystal Lattice: AI-Enhanced XRD Analysis" delves into the revolutionary fusion of X-ray diffraction (XRD) techniques with artificial intelligence (AI) algorithms. As XRD remains a cornerstone for materials characterization, the book explores how the integration of AI enhances the accuracy, speed, and efficiency of XRD analysis, opening up new frontiers for research and industry applications.The book begins by establishing a solid foundation in XRD analysis, highlighting its importance, historical context, and challenges. It then introduces the concept of AI and its potential impact on XRD analysis. From there, it delves into the fundamentals of X-ray diffraction, providing readers with a comprehensive understanding of the technique.Various traditional XRD analysis techniques, including qualitative and quantitative analysis, texture analysis, and residual stress analysis, are explored. The book then delves into machine learning and its application in XRD analysis, covering data preprocessing, feature selection, classification algorithms, regression algorithms, and the use of neural networks and deep learning.
Ключевые слова: X-ray Diffraction, Crystal structures, AI, Deep Learning