Ваш любимый книжный интернет-магазин
Перейти на
GlavKniga.SU
Ваш город: Алматы
Ваше местоположение – Алматы
 Да 
От вашего выбора зависит время и стоимость доставки
Корзина: пуста
Авторизация 
  Логин
  
  Пароль
  
Регистрация  Забыли пароль?

Поиск по каталогу 
(строгое соответствие)
ISBN
Фраза в названии или аннотации
Автор
Язык книги
Год издания
с по
Электронный носитель
Тип издания
Вид издания
Отрасли экономики
Отрасли знаний
Сферы деятельности
Надотраслевые технологии
Разделы каталога
худ. литературы

CHEMICALLY DEPOSITED CuI THIN FILMS AND ITS PROPERTIES.

В наличии
Местонахождение: АлматыСостояние экземпляра: новый
Бумажная
версия
Автор: Prakash B. Ahirrao and Mahendra S. Shinde
ISBN: 9786138952473
Год издания: 1905
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 96
Издательство: Scholars' Press
Цена: 34167 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли экономики:
Код товара: 767923
Способы доставки в город Алматы *
комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK)
Курьерская доставка CDEK из города Москва
Доставка Почтой России из города Москва
      Аннотация: Materials have received immense attention due to their wide applications in various fields of science and technology and can be classified as metals, polymers, ceramics, composites, semiconductors, bio-materials and nanomaterials. Materials science is a broad field and can be considered to be an interdisciplinary area. Included within it are the studies of the structure and properties of any material, the material engineering to suit the needs of specific application.In this book we have presented detail study of the growth, Optimised preparative parameters, structural, optical, and electrical properties of CuI thin films are deposited using modified chemical bath deposition (M-CBD) technique and chemical bath deposition (CBD) techniques. in addition to this the analysis by The various experimental characterization techniques like X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray analysis (EDAX), optical absorption, electrical resistivity, thermoemf measurement techniques,PEC Property in dark and after illumination of light are given here.
Ключевые слова: materials, Nanotechnology, PEC, Semiconductors, Thin films.