Поиск по каталогу |
(строгое соответствие)
|
- Профессиональная
- Научно-популярная
- Художественная
- Публицистика
- Детская
- Искусство
- Хобби, семья, дом
- Спорт
- Путеводители
- Блокноты, тетради, открытки
Improving Reliability of Defect Prediction Models. From Temporal Reasoning and Machine Learning Perspective
В наличии
Местонахождение: Алматы | Состояние экземпляра: новый |
Бумажная
версия
версия
Автор: Jayalath Ekanayake
ISBN: 9786202300131
Год издания: 1905
Формат книги: 60×90/16 (145×215 мм)
Количество страниц: 184
Издательство: Scholars' Press
Цена: 50845 тг
Положить в корзину
Позиции в рубрикаторе
Отрасли знаний:Код товара: 768763
Способы доставки в город Алматы * комплектация (срок до отгрузки) не более 2 рабочих дней |
Самовывоз из города Алматы (пункты самовывоза партнёра CDEK) |
Курьерская доставка CDEK из города Москва |
Доставка Почтой России из города Москва |
Аннотация: Developing error free software is a prime objective of software developers. However, achieving this objective is not a trivial task. This becomes even more harder for the development organizations with minimum resources. The developers often use automatic defect prediction models, which are mostly developed using machine learning algorithms, to locate defects in software. The prediction quality of such models is important as wrong predictions may negatively impact on the development organizations as well as the end users. This book explores the possible issues in the existing prediction models and proposes methods to further enhance the prediction quality of such models.
Ключевые слова: Defect prediction, Mining Software Repositories, Machine Learning Models